A METHOD FOR THICKNESS DETERMINATION OF THIN FILMS OF AMALGAMABLE METALS BY TOTAL-REFLECTION X-RAY FLUORESCENCE Artículo académico

autores

fecha de publicación

2009

Publicado en

NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS Revista

Número de páginas

5

Página inicial

2532

Última página

2537

Volumen

267